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溫度，這里指的是室內(nèi)溫度，實(shí)驗(yàn)室類型不同，其室溫要求也不一樣。從電感耦合等離子體光譜儀使用說明上可以看出大部分的環(huán)境溫度定在(20-26)°C之間，每個(gè)小時(shí)的溫度變化應(yīng)小于1°C。
一般來說精密光學(xué)儀器，對(duì)環(huán)境溫度有一定的要求， 各種不同材料組成的部件因?yàn)榕蛎浵禂?shù)的不同也會(huì)發(fā)生扭曲、變形，與基本的基準(zhǔn)產(chǎn)生偏差;其光學(xué)元件儀器的散熱效率減少變化，這種微小變化將導(dǎo)致光學(xué)系統(tǒng)的性能發(fā)生變化;室溫偏高會(huì)可使儀器的散熱效率減少，導(dǎo)致儀器內(nèi)部因溫度升高導(dǎo)致儀器的電子元件的性能降低、使用壽命縮短、絕緣性能降低，例如在ICP光譜儀中光學(xué)元件受環(huán)境溫度高低變化就會(huì)產(chǎn)生譜線漂移現(xiàn)象，導(dǎo)致測定數(shù)據(jù)精密度過高，操作者難以準(zhǔn)確測定數(shù)據(jù);溫度偏低會(huì)使電容電感電阻器的參數(shù)改變，導(dǎo)致性能發(fā)生變化。由于電子元器件特別是集成電路要求在合適的溫度范圍內(nèi)工作，因此為保證儀器的精密度和延長其使用壽命，應(yīng)讓儀器始終處于符合要求的環(huán)境溫度。ICP光譜儀在工作過程中如果超過了環(huán)境溫度的設(shè)定范圍，就會(huì)出現(xiàn)儀器尋峰不準(zhǔn)無法分析、測定標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)時(shí)高時(shí)低等故障現(xiàn)象。時(shí)間證明，溫度不穩(wěn)定、變化太大大可使樣品檢測出的數(shù)據(jù)超出了標(biāo)本10%以上。
因此為了保證ICP光譜儀的正常運(yùn)行并結(jié)合人的生理特點(diǎn)，建議把環(huán)境溫度的最佳范圍設(shè)置在(21~26)°C，環(huán)境溫度2h內(nèi)變化應(yīng)該小于±1°C
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